|
|
Šíření světla v magnetických materiálech
Wagenknecht, David ; Ostatnický, Tomáš (vedoucí práce) ; Veis, Martin (oponent)
Transparentní magnetické materiály, mimo jiné i polovodičové, se v poslední době dostávají do centra zájmu základního i aplikovaného výzkumu z důvodu jejich širokého potenciálu nejenom pro uplatnění v optických aplikacích, ale i jako velmi vhodné systémy pro výzkum základních fyzikálních jevů s využitím optické spektroskopie. Teoreticky se však ukazuje, že by mohly vykazovat i některé jevy nepozorovatelné v jiných systémech, například asymetrii v odrazivosti při opačných úhlech dopadu. V této bakalářské práci je na základě řešení Maxwellových rovnic s uvážením efektivní permitivity odvozena přenosová matice. Následně je ukázáno z podoby reflexního koeficientu pro jedno rozhraní, že pro transverzálně- magnetickou polarizaci a příčnou magnetizaci se asymetrická odrazivost vyskytuje: reflektance se liší pro kladný a záporný úhel dopadu. Odvozené vztahy jsou nakonec použity k výpočtu rozdílností reflektancí pod opačnými úhly v závislosti na důležitých parametrech pro Ga1−xMnxAs s různými koncentracemi manganu. 1
|
|
|
Šíření světla v magnetických materiálech
Wagenknecht, David ; Ostatnický, Tomáš (vedoucí práce) ; Veis, Martin (oponent)
Transparentní magnetické materiály, mimo jiné i polovodičové, se v poslední době dostávají do centra zájmu základního i aplikovaného výzkumu z důvodu jejich širokého potenciálu nejenom pro uplatnění v optických aplikacích, ale i jako velmi vhodné systémy pro výzkum základních fyzikálních jevů s využitím optické spektroskopie. Teoreticky se však ukazuje, že by mohly vykazovat i některé jevy nepozorovatelné v jiných systémech, například asymetrii v odrazivosti při opačných úhlech dopadu. V této bakalářské práci je na základě řešení Maxwellových rovnic s uvážením efektivní permitivity odvozena přenosová matice. Následně je ukázáno z podoby reflexního koeficientu pro jedno rozhraní, že pro transverzálně- magnetickou polarizaci a příčnou magnetizaci se asymetrická odrazivost vyskytuje: reflektance se liší pro kladný a záporný úhel dopadu. Odvozené vztahy jsou nakonec použity k výpočtu rozdílností reflektancí pod opačnými úhly v závislosti na důležitých parametrech pro Ga1−xMnxAs s různými koncentracemi manganu. 1
|
|
|
Surface acoustic waves in the layered systems
Tarasenko, Alexander ; Boháč, Petr ; Jastrabík, Lubomír
The laser acoustic method was used for analysis of two layered systems: thin titanium and diamond like carbon films both deposited on silicon. The film and substrate parameters are determined by fitting the theoretical curve to the measured dispersion curve. The fit software seeks that set of the system parameters whose theoretical curve coincides the best with the experimental data. For the titanium film the best root-mean square deviation was 2.04 m/s with the relative error < O.I % and for the DLC system the corresponding value was 0.30 m/s (the relative error < O.O1 % ).
|
host ::
RSS.